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A lean noise-canceling SMASH Delta-Sigma ADC in 65-nm CMOS

Verreault Antoine, Cicek Paul-Vahé et Robichaud Alexandre. (2026). A lean noise-canceling SMASH Delta-Sigma ADC in 65-nm CMOS. IEEE Transactions on Circuits and Systems I: Regular Papers, 73, (6), p. 3861-3874.

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URL officielle: https://doi.org/10.1109/TCSI.2026.3674117

Résumé

This paper presents a novel ΔΣ ADC architecture designed to simultaneously achieve moderate to high bandwidth and high SNDR. The proposed converter builds on a sturdy MASH ΔΣ topology, where the second stage is replaced by a noise-shaping SAR (NS-SAR). Thanks to the feedforward property of the NS-SAR, the quantization noise of the first stage is effectively canceled. A novel dynamic amplifier is proposed for the first integrator, providing an improved trade-off between area, drive capability, and power consumption. In addition, a passive summation scheme that reuses the quantizer capacitor array is employed, eliminating the need for a power-hungry amplifier. Simulation results demonstrate an SNDR of 89 dB over a 500 kHz bandwidth with a power consumption of 1.73 mW, corresponding to a FOMSc of 173.7 dB. Extensive simulations further confirm robust stability across PVT variations.

Type de document:Article publié dans une revue avec comité d'évaluation
ISSN:1549-8328
Volume:73
Numéro:6
Pages:p. 3861-3874
Version évaluée par les pairs:Oui
Date:Juin 2026
Nombre de pages:14
Identifiant unique:10.1109/TCSI.2026.3674117
Unité(s) institutionnelle(s):Départements et unités pédagogiques > Département des sciences appliquées
Mots-clés:bandwidth, circuits, circuit stability, noise, noise cancellation, noise shaping, quantization (signal), modulation, multi-stage noise shaping, power demand, simulation
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Déposé le:24 août 2026 17:35
Dernière modification:24 août 2026 17:35
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