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Electrical diagnostics of high voltage devices via high resolution near field analysis

Gaborit Gwenaël, Gillette Laurane, Revillod Guillaume, Dahdah Jean, Duvillaret Lionel, Volat Christophe, Pons Christian, Bic Emmanuel, Giannini Laura et Dumont Erwan. (2016). Electrical diagnostics of high voltage devices via high resolution near field analysis. Dans 2016 IEEE Electrical Insulation Conference (EIC). (2016, p. 555-558). Piscataway, NJ : Institute of Electrical and Electronics Engineers.

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URL officielle: http://dx.doi.org/doi:10.1109/EIC.2016.7548663

Résumé

We here present our latest developments concerning an optical pigtailed electric field sensor dedicated to the monitoring and the analysis of medium and high voltage devices. This non invasive sensor allow to perform safely the electric field vectorial characterization in the closest vicinity of a device under test. The realized optical probe demonstrates here its potentialities for the diagnostic of a 25 kV monoconductor cable and is also exploited to analyse a default on a 100 kV insulator.

Type de document:Chapitre de livre
Date:Août 2016
Lieu de publication:Piscataway, NJ
Identifiant unique:10.1109/EIC.2016.7548663
Sujets:Sciences naturelles et génie > Génie
Sciences naturelles et génie > Génie > Génie électrique et génie électronique
Sciences naturelles et génie > Sciences appliquées
Département, module, service et unité de recherche:Départements et modules > Département des sciences appliquées > Module d'ingénierie
Mots-clés:Proceedings, electric field, high voltage diagnostic, mapping, near field, optical sensor, champ électrique, diagnostic haute tension, cartographie, champ proche, capteur optique
Déposé le:21 juill. 2021 15:51
Dernière modification:21 juill. 2021 15:51
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