Gaborit Gwenaël, Gillette Laurane, Revillod Guillaume, Dahdah Jean, Duvillaret Lionel, Volat Christophe, Pons Christian, Bic Emmanuel, Giannini Laura et Dumont Erwan. (2016). Electrical diagnostics of high voltage devices via high resolution near field analysis. Dans 2016 IEEE Electrical Insulation Conference (EIC). (2016, p. 555-558). Piscataway, NJ : Institute of Electrical and Electronics Engineers.
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URL officielle: http://dx.doi.org/doi:10.1109/EIC.2016.7548663
Résumé
We here present our latest developments concerning an optical pigtailed electric field sensor dedicated to the monitoring and the analysis of medium and high voltage devices. This non invasive sensor allow to perform safely the electric field vectorial characterization in the closest vicinity of a device under test. The realized optical probe demonstrates here its potentialities for the diagnostic of a 25 kV monoconductor cable and is also exploited to analyse a default on a 100 kV insulator.
| Type de document: | Chapitre de livre |
|---|---|
| Date: | Août 2016 |
| Lieu de publication: | Piscataway, NJ |
| Identifiant unique: | 10.1109/EIC.2016.7548663 |
| Sujets: | Sciences naturelles et génie > Génie Sciences naturelles et génie > Génie > Génie électrique et génie électronique Sciences naturelles et génie > Sciences appliquées |
| Département, module, service et unité de recherche: | Départements et modules > Département des sciences appliquées > Module d'ingénierie |
| Mots-clés: | Proceedings, electric field, high voltage diagnostic, mapping, near field, optical sensor, champ électrique, diagnostic haute tension, cartographie, champ proche, capteur optique |
| Déposé le: | 21 juill. 2021 15:51 |
|---|---|
| Dernière modification: | 21 juill. 2021 15:51 |
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