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Comparison between the use of surface and volume conductivity to compute potential distribution along an insulator in presence of a thin conductive layer

Volat Christophe. (2013). Comparison between the use of surface and volume conductivity to compute potential distribution along an insulator in presence of a thin conductive layer. 2013 IEEE Electrical Insulation Conference (EIC), 2013, (13642131), p. 409-413.

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URL officielle: http://dx.doi.org/doi:10.1109/EIC.2013.6554278

Résumé

This paper describes a comparative study on the modeling of a thin conductive dielectric layer usually found on polluted or ice-covered insulators. Two different approaches such as those offered by most FEM commercial software were studied. The first one is a volume approach which takes into account the thickness of the thin layer. The second is the surface approach where the thin layer is treated as a specific boundary condition. Simulations were performed using the FEM commercial software Comsol Multiphysics® that allows both volume and surface approaches. Parameters such as conductivity and permittivity of the thin layer as well as the number of elements used are studied both in 2D axisymmetric and 3D modeling. The results obtained demonstrated that the surface approach is the best solution as it provides the same results as the volume approach but with 3 times less elements required for the mesh. The surface approach should then be considered for 3D complex problems where thin conductive dielectric layer is present.

Type de document:Article publié dans une revue avec comité d'évaluation
Volume:2013
Numéro:13642131
Pages:p. 409-413
Version évaluée par les pairs:Oui
Date:Juin 2013
Lieu de publication:Piscataway, NJ
Identifiant unique:10.1109/EIC.2013.6554278
Sujets:Sciences naturelles et génie > Génie
Sciences naturelles et génie > Génie > Génie électrique et génie électronique
Sciences naturelles et génie > Sciences appliquées
Département, module, service et unité de recherche:Départements et modules > Département des sciences appliquées > Module d'ingénierie
Mots-clés:Proceedings, FEM, polluted insulator, potential distribution, thin conductive dielectric layer, isolant pollué, distribution de potentiel, couche diélectrique conductrice mince
Déposé le:23 juin 2021 13:10
Dernière modification:23 juin 2021 13:10
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